一，半导体装备对SEMI F47测试电源波动耐受性有何建议?
针对电源波动，如希望设备具备耐受性，
1，在初期设备设计时，电源端的部件选择，需要部件有电压波动的耐受力，甚至符合SEMI F47的要求。若设备已经设计完成，可以先通过IPC电压暂降设备在各个电源辅助电路执行SEMI F47测试，这样很容易找出故障点，并针对这些找出解决方案。
以下方面建议在设计时重点考虑：
1）直接在主输入电源回路直接加入电压补偿装置，如DV98等，这种方法成本相对比较高，一般不建议，；
2）通过F47测试找出对欠压比较敏感的部件，如控制回路，选择针对性加入补偿装置，这种成本就相对比较低。而相对于加热部件，马达等机械部件对欠压没那么敏感可以不用加。
3）接触器，断路器，继电器选择宽电压范围的对电压暂降不敏感的，或者选通过有F47测试要求的。
4）一些主要的电源模组、执行部件要选择有F47认证或宽电压范围的，如开关电源模块，伺服驱动器等。
二，SEMI F47和Samsung标准测试有何差异？
1，SEMI F47要求如下，每次针对一相输入电
2，SAMSUNG 测试波形如下，要求同时针对所有相输入电进行100%断电1S；
三，装备如何满足samsung 标准?
针对这个问题，从理论上，有如下几种推荐方法：
1）设备符合F47的要求，并跟samsung协议，他们是否可以接受，如果不能接受，跟他们商议是否可以利用产线自配的UPS满足samsung要求。
2）设备带UPS后满足F47且samsung要求，但是这个一般对单相小设备比较适用；但是产品带UPS本身跟Samsung要求有些冲突，需要跟samsung协议是否可以接受；
3）设备安装电源质量感应装置，检测电源的波动和干扰，反馈信号给到设备，但是需要确保设备的计算机控制电路接到samsung的UPS网络且设备软件需要做些调整，也就是当1S断电后，要保证系统部分在无操作人员介入的情况下可以自动重启，这种方法目前应用的比较少，也需要与SAMSUNG商议同意方可执行。
电源感应装置如下：
根据我们以往认证案例，如果要满足samsung power vaccine，
仅仅设备本身的器件符合要求是无法满足这个测试要求的，需要另外在设备电源端安装特殊专业的电压补偿装置，如下3种厂家的装置，客户都使用过，可以进行对比选择：
四，电压跌落（DIP）测试设备和SEMI F47测试设备有何区别？
仪器测试能力和定位不同。
半导体IPC测试仪器设备专门定位于工业半导体测试的SEMI F47测试，可以精确测试半导体制造设备关于SEMI F47的要求，测试电压范围100~480VAC,频率50/60Hz,单相和三相,负载持续电流可以达到每相200A； 用于CE认证的DIP单相设备定位于普通电子消费类产品电压暂降测试，只能满足负载小于等于16A，三相最大也只能在每相30A以下，因为满载测试对设备损耗极大，所以很多时候，处于对仪器保护，DIP测试都是在负载空载或降低要求下测试；
2. IPC设备可以产生真实的相对相电压暂降，而一般的DIP设备只能产生模拟的相对相电压暂降；
3. IPC可以实时记录电压，电流波形，如下图，而一般DIP设备不具备这个功能。
4. IPC有28个独立的辅助测试通道和配件，可以对工业设备的任意电源模块进行测试和监测，以帮助制造厂快速定位找到故障点。一般DIP设备没有这个功能，只能针对主电源电路进行测试，因为DIP仪器要串联在源和被测试设备之前，在电压突变时将产生非常大的电流，DIP一般都是降低实际负载来测试的，不能符合SEMI F47要求；
用于CE认证的DIP测试仪器，目前国内、国际有很多品牌，原理和测试能力都相同；
